[1]刘希.分离子函数法与求逻辑电路单故障全测试集[J].华侨大学学报(自然科学版),1985,6(1):95-105.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1985.01.0095]
　liu Xi.Ionization Function Method And Single Fault Detection of LogicaL Circuit[J].Journal of Huaqiao University(Natural Science),1985,6(1):95-105.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1985.01.0095]
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分离子函数法与求逻辑电路单故障全测试集()
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《华侨大学学报（自然科学版）》[ISSN:1000-5013/CN:35-1079/N]

卷:
第6卷
期数:
1985年第1期
页码:
95-105
栏目:
出版日期:
1985-01-20

文章信息/Info

Title:
Ionization Function Method And Single Fault Detection of LogicaL Circuit
作者:
刘希
华桥大学电子工程系
Author(s):
liu Xi
关键词:
测试集;  组合逻辑电路;  单故障;  分离子;  函数法;  布尔差分法;  定理;  输出;  计算机辅助测试;  推理
DOI:
10.11830/ISSN.1000-5013.1985.01.0095
摘要:
本文提出一种方法即分离子函数法和有关定理及推理,並用布尔差分的理论加以证明。用提出的定理,可以求出组合逻辑电路的单故障全测试集,其结果和布尔差分法与SPOOF法相同。但本文与文[4]提出的方法有两点优于布尔差分法和SPOOF法。 (1)笔算时,运算工作量约省50%左右方法简单,易掌握。 (2)有独到之处是可以编成程序供CAT(计算机辅助测试)之用。
Abstract:
This PaPer suggests a method called ionization function approach, its definition, and derivation and utilizes Boolean Difference’s fheorem for proofing. By this approach, the single fault of combined logical circuit can be detected. the result obtained is

相似文献/References:

[1]刘希.求逻辑函数布尔差分的方法[J].华侨大学学报(自然科学版),1982,3(2):71.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1982.02.0071]
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更新日期/Last Update: 2014-03-22