[1]吴硕思,吴绍敏.负二项抽样下r/N(G)系统可靠性增长的Bayes估计[J].华侨大学学报(自然科学版),1992,13(1):34-45.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1992.01.0034]
 Wu Shuosi,Wu Shaomin.Bayes Estimate for the Reliability Growth of a r/N(G)System with Negative Binomial Sampling[J].Journal of Huaqiao University(Natural Science),1992,13(1):34-45.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1992.01.0034]
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负二项抽样下r/N(G)系统可靠性增长的Bayes估计()
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《华侨大学学报(自然科学版)》[ISSN:1000-5013/CN:35-1079/N]

卷:
第13卷
期数:
1992年第1期
页码:
34-45
栏目:
出版日期:
1992-01-20

文章信息/Info

Title:
Bayes Estimate for the Reliability Growth of a r/N(G)System with Negative Binomial Sampling
作者:
吴硕思吴绍敏
华侨大学管理信息科学系; 华侨大学管理信息科学系
Author(s):
Wu Shuosi Wu Shaomin
关键词:
负二项抽样 可靠性增长 Bayes 估计 验前分布
Keywords:
negative binomial sampling reliability growth Bayes estimaie prior distribation
DOI:
10.11830/ISSN.1000-5013.1992.01.0034
摘要:
本文讨论了在负二项抽样模型下,部件可靠概率,带有验前负对数 Gamma 分布、验前 Beta分布及其特殊情况验前 U(0,1)分布时,对 r/N(G)系统的可靠性增长作出 Bayes 估计.主要结果有定理1、2.而几何抽样模型下的结论是本文的特例,最后附有实例.
Abstract:
The Bayes estimate was made for the reliability growth of a r/N(G) system with negative binomial sampling model.The estimate was made under the condition that the survival probability p of the units possess a prior negative logarithmic gamma distribution,
更新日期/Last Update: 2014-03-22