[1]刘希.含有x_i,x_j的F(x)的K表示式与用分离子函数法求双故障全测试集[J].华侨大学学报(自然科学版),1983,4(1):69-81.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1983.01.0069]
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含有x_i,x_j的F(x)的K表示式与用分离子函数法求双故障全测试集(
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《华侨大学学报（自然科学版）》[ISSN:1000-5013/CN:35-1079/N]
- 卷:
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第4卷
- 期数:
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1983年第1期
- 页码:
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69-81
- 栏目:
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- 出版日期:
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1983-01-20
文章信息/Info
- 作者:
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刘希
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华侨大学电子工程系
- 关键词:
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表示式; 完全测试集; 故障测试; 函数法; 分离子; 布尔差分法; 子函数; 组合逻辑电路; 定理; 运算
- DOI:
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10.11830/ISSN.1000-5013.1983.01.0069
- 摘要:
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一本文作者提出逻辑函数 F(X)=F(x1,…,xn,xi,xj)可以用 K 表示式来表达,并加以证明。同时提出 F(X)亦可以用 G 表示式表达,并求出二者转换的关系式。其次,从布尔差分法求双故障完全测试集的基本定理出发,推导出用 K 表示式的子函数求测试集的一系列公式及定理。它与布尔差分的根本不同处在于前者只用初级运算,后者则要求要出差分。故本文提出的方法运算简单易学。
更新日期/Last Update:
2014-03-22