[1]林来金.多孔磁芯动态开关测试仪的研究探讨[J].华侨大学学报(自然科学版),1984,5(1):25-30.[doi:10.11830/ISSN.1000-5013.1984.01.0025]
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多孔磁芯动态开关测试仪的研究探讨()
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《华侨大学学报(自然科学版)》[ISSN:1000-5013/CN:35-1079/N]

卷:
第5卷
期数:
1984年第1期
页码:
25-30
栏目:
出版日期:
1984-01-20

文章信息/Info

作者:
林来金
华侨大学物理系
关键词:
多孔磁芯 测试仪 电流脉冲 研究探讨 动态开关 控制孔 脉冲性能 磁路结构 破坏读出 逻辑电路
DOI:
10.11830/ISSN.1000-5013.1984.01.0025
摘要:
<正> 一、引言多孔磁芯作为不破坏读出的磁芯存贮器,或其它无触点开关元件,具有独特的优点.由于多孔磁芯的磁路结构较为复杂,必须掌握多孔磁芯的动态脉冲性能,方能设计定型合理的逻辑电路; 同时需要测量的动态脉冲参数较多,因而使多孔磁芯测试仪的结构比单孔磁芯测试仪更为复杂,通常的方法是给多孔磁芯的控制孔和输出孔分别通以系列电流脉冲.根据输

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更新日期/Last Update: 2014-03-22